Pset_ProtectiveDeviceTrippingUnitTypeElectroMagnetic

BACnet MVD

#### 7.4.4.57 Pset_ProtectiveDeviceTrippingUnitTypeElectroMagnetic

PSET_TYPEDRIVENOVERRIDE / IfcProtectiveDeviceTrippingUnit / ELECTROMAGNETIC

Natural language names

| Protective Device Tripping Unit Type Electro Magnetic

Properties

buildingSMART Data Dictionary

PSD-XML

Name | Type | Description
--- | --- | ---

ElectroMagneticTrippingUnitType

P_ENUMERATEDVALUE / IfcLabel / PEnum_ElectroMagneticTrippingUnitType

| Electro Magnetic Tripping Unit Type | A list of the available types of electric magnetic tripping unit from which that required may be selected. These cover overload, none special, short circuit, motor protection and bi-metal tripping.
| 電磁トリップ装置タイプ | 電磁トリップ装置タイプを選択する。（過電流・配線用・モーター・バイメタル・その他）

I1

P_SINGLEVALUE / IfcReal

| I1 | The (thermal) lower testing current limit in [x In], indicating that for currents lower than I1, the tripping time shall be longer than the associated tripping time, T2.
| I1 | 熱動式の低試験電流限界値を [x In]、電流は I1　よりも低い値を示す。トリップ時間は関連する T2 の時間よりも長い。

I2

P_SINGLEVALUE / IfcReal

| I2 | The (thermal) upper testing current limit in [x In], indicating that for currents larger than I2, the tripping time shall be shorter than the associated tripping time, T2.
| I2 | 熱動式の高試験電流限界値を [x In], 電流は I2 よりも高い値を示す。トリップ時間は関連する T2 の時間よりも短い。

T2

P_SINGLEVALUE / IfcTimeMeasure

| T2 | The (thermal) testing time in [s] associated with the testing currents I1 and I2.
| T2 | 熱動式の試験時間を [s] , 関連する試験電流を I1 と I2　とする。

DefinedTemperature

P_SINGLEVALUE / IfcThermodynamicTemperatureMeasure

| Defined Temperature | The ambient temperature at which the thermal current/time-curve associated with this protection device is defined.
| 設定温度 | この保護装置が定める温度・電流/時間-カーブに関連する周囲温度。

TemperatureFactor

P_SINGLEVALUE / IfcRatioMeasure

| Temperature Factor | The correction factor (typically measured as %/deg K) for adjusting the thermal current/time to an ambient temperature different from the value given by the defined temperature.
| 温度係数 | 熱の電流/時間を、定義済みの温度によって与えられる値と異なる場合に周囲温度に合わせるための補正係数（%/deg K で計測する）。

I4

P_SINGLEVALUE / IfcReal

| I4 | The lower electromagnetic testing current limit in [x In], indicating that for currents lower than I4, the tripping time shall be longer than the associated tripping time, T5, i.e. the device shall not trip instantaneous.
| I4 | 電磁の低試験電流限界値を [x In], 電流は I4 よりも低い値を示す。トリップ時間は関連する T5 と瞬時に遮断する定格使用電流の時間よりも長い。

I5

P_SINGLEVALUE / IfcReal

| I5 | The upper electromagnetic testing current limit in [x In], indicating that for currents larger than I5, the tripping time shall be shorter than or equal to the associated tripping time, T5, i.e. the device shall trip instantaneous.
| I5 | 電磁の高試験電流限界値を [x In], 電流は I4 よりも低い値を示す。トリップ時間は関連する T5 と瞬時に遮断する定格使用電流の時間よりも長い。

T5

P_SINGLEVALUE / IfcTimeMeasure

| T5 | The electromagnetic testing time in [s] associated with the testing currents I4 and I5, i.e. electromagnetic tripping time
| T5 | 電磁の試験時間を [s] , 関連する試験電流を I4 と I5　とする。

CurveDesignation

P_SINGLEVALUE / IfcLabel

| Curve Designation | The designation of the trippingcurve given by the manufacturer. For a MCB the designation should be in accordance with the designations given in IEC 60898.
| 曲線指定 | メーカーが提供する指定のトリッピングカーブ。MCBのために、指定はIEC 60898に準拠しなければならない。

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